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    日本新光AF-R220E精密電子分析天平

    產品簡介

    日本新光AF-R220E精密電子分析天平:量程220g,精度0.1mg,稱盤尺寸為∮80mm,具自動偵測零點、水平位置及溫度功能,以確保秤重準確;特殊拉門設計,多種開關選擇;

    產品型號:AF-R220E精密電子分析天平
    更新時間:2017-07-19
    廠商性質:代理商
    訪問量:1932
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    日本新光AF-R220E精密子分析天平

    AF-R220E精密電子分析天平 日本新光
     
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    產品說明
    ● 具自動偵測零點、水平位置及溫度功能,以確保秤重準確;
    ●  特殊拉門設計,多種開關選擇
        1. 防風罩兩側也拉門式設計, 皆可開、關(一手拿秤物時, 另一手可以拉開防風罩, 非常方便);
       2. 防風罩及秤盤都是組合式, 可拆卸;
       3. 玻璃內面, 秤盤計量皿皆可以清潔;
       4. 沒軌道的設計,不易留灰塵或粉末;
     

    型號
    AF-220E
    AF-R220E
    量程
    220g
    精度
    0.0001g
    秤盤尺寸(mm
    ∮80mm
    體積W*D*H(mm)
    320*210*335mm
    電源
    AC120/230V DC9V
    輸出方式
    RS-232C
    重量
    5.2kg
    5.5kg

     
    附加:AF-(R)內藏校正砝碼,具有自動校正功能,「CAL」鍵ONE TOUCH自動校正,接上印表機即可列印校正紀錄及SPAN TEST, 可顯示日期、時間等。亦可保存歷史紀錄。
     
     

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